Аналитическая химия: индийский журнал
ISSN (PRINT): 0974-7419

Абстрактный

X-Ray Photoelectron Spectroscopy Studies of Metal Chalcogenide Thin Films: A Review

Ho Soonmin


X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) on sample analysis has the capability to give useful information about the surface layer in thin films. In this work, chemical composition and elemental oxidation states will be studied for binary, ternary and quaternary thin films.


Индексировано в

  • КАСС
  • Google Scholar
  • Открыть J-ворота
  • Национальная инфраструктура знаний Китая (CNKI)
  • CiteFactor
  • Космос ЕСЛИ
  • Библиотека электронных журналов
  • Каталог индексирования исследовательских журналов (DRJI)
  • Секретные лаборатории поисковых систем
  • ICMJE

Посмотреть больше

Журнал ISSN

Индекс Хирша журнала

Flyer

Журналы открытого доступа